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掃查方法
1.鍛件原則上應(yīng)從兩相互垂直的方向進(jìn)行探傷,盡可能地探測(cè)到鍛件的全體積,主要探測(cè)方向如圖2所示,其他形狀的鍛件也可參照?qǐng)?zhí)行.
2. 掃查范圍:應(yīng)對(duì)鍛件整個(gè)表面進(jìn)行連續(xù)全面掃查.
3. 掃查速度:探頭移動(dòng)速度不超過(guò)150mm/s.
4. 掃查復(fù)蓋應(yīng)為探頭直徑的15%以上.
5. 當(dāng)鍛件探測(cè)厚度大于400mm時(shí),應(yīng)從相對(duì)兩端面探傷.
探傷靈敏度的校驗(yàn)
1 原則上利用大平底采用計(jì)算法確定探傷靈敏度,對(duì)由于幾何形狀所限,以及缺陷在近場(chǎng)區(qū)內(nèi)的工件,可采用試塊法.
2 用底波法校正靈敏度,校正點(diǎn)的位置應(yīng)選以工件上無(wú)缺陷的完好區(qū)域.
3 曲面補(bǔ)償:對(duì)于探測(cè)面是曲面而又無(wú)法采用底波法的工件,應(yīng)采用曲率與工件相同或相近(0.7-1.1倍)的參考試塊;或者采用小直徑晶片的探頭,使其近場(chǎng)區(qū)的長(zhǎng)度小于等于1/4工件半徑,這樣可不需進(jìn)行曲面補(bǔ)償.
4 探傷靈敏度不得低于Φ2mm當(dāng)量直徑.
缺陷當(dāng)量的確定
1 采用AVG曲線及計(jì)算法確定缺陷當(dāng)量.
2 計(jì)算缺陷當(dāng)量時(shí),當(dāng)材質(zhì)衰減系數(shù)超過(guò)4dB/m時(shí),應(yīng)考慮修正.
3 材質(zhì)衰減系數(shù)的測(cè)定